令和5年度概算要求（基盤的研究設備）で購入された精密質量分析システムを構成するマトリックス支援レーザー脱離イオン化スパイラルTOF質量分析計について、下記の要領で説明会を実施します。

                                                                                                                                              記

マトリックス支援レーザー脱離イオン化スパイラルTOF質量分析計

日本電子株式会社製　JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0

https://nushare.ura.nagasaki-u.ac.jp/equipment/equipmentdetail.php?eq_no=259

説明：分子量2～1万2000までの低～中分子の高分解能測定（分解能75,000)

            リニアモードによる分子量50万までの高分子の分子量測定

            MS²によるフラグメント分析、ポリマーのKMD解析、MSイメージング

日時：５月１６日（木）１３時～

              Webと現地（少人数）によるハイブリッド開催

内容：基本操作（校正および測定）、元素組成推定、MSMS測定、MSイメージング等

設置場所：研究開発推進機構　設備共同利用部門　薬学本部（薬学部１階　南棟）

お申込み・お問合せ：津田信明　技術専門職員（内線2466, tsuda@nagasaki-u.ac.jp)

申込締切：５月１３日（月）（申込者にZoomアドレスを配布）

以上